XRF(X-ray Fluorescence, X선 형광분석)는 비파괴 분석 기법 중 하나로, 재료 내부의 원소 성분을 빠르고 정확하게 파악할 수 있는 기술입니다. X선을 시료에 조사하면, 원자 내부에서 특정한 에너지의 형광 X선이 방출되는데, 이를 측정하여 어떤 원소가 존재하는지, 또 그 농도가 얼마인지 알 수 있습니다. 시료를 손상시키지 않으면서도 정밀한 결과를 얻을 수 있다는 점에서 금속, 반도체, 환경 분석, 고고학 유물 연구 등 다양한 분야에서 널리 활용되고 있습니다. 목차1. XRF 분석이란?2. XRF의 원리3. XRF 장비의 주요 구성 요소3-1. X선 발생 장치3-2. 검출기(Detector)3-3. 분석 소프트웨어4. XRF 분석 절차5. XRF의 장점과 한계6. 대표적 활용 분야7. 맺음..
